Geïntegreerd systeem voor het scannen en meten van CWDM-modules

CWDM Module Scannen en Spotmeting Geïntegreerd Systeem

Systeemoverzicht:

   Het systeem is een uitgebreid testsysteem ontworpen voor CWDM, MWDM, LWDM en andere multi-channel full-wave producten. Het systeem integreert de traditionele ASE+OSA scanmodus en de puntmetingmodus van de puntlichtbron plus vermogensmeter, waardoor de algehele testefficiëntie van het product effectief wordt verbeterd en de kosten van de apparatuur en de arbeidskosten worden verlaagd. Bovendien wordt door het gebruik van een optische box de ruimte van de stationapparatuur gecomprimeerd, waardoor de netheid van het station wordt verbeterd. In het testproces is het systeem geautomatiseerd en verwerkt, wat bevorderlijk is voor de training van personeel en anti-fouten.

Werkingsprincipe:

   Configureer ASE (SLED), OSA, puntlichtbron en polarisatiecontroller op basis van het te testen producttype en stel de testspecificaties van het bijbehorende product in. Tijdens de werking wordt elk station onafhankelijk voltooid voor de puntmetingsparameters.

Voor scanparameters bestuurt de instrumentenserver OSA volgens het FIFO-mechanisme op basis van het verzoek van elke client om te scannen. Nadat alle parameters zijn getest, verdeelt het systeem de testgegevens, analyseert, slaat op en bepaalt automatisch, en geeft de testresultaten weer op de testprogramma-interface.

Hoogtepunten:

1. Verbeter de testefficiëntie: het product hoeft slechts één keer te worden aangesloten, verminder het aantal bedradingen, automatische parametertests;

2. Verlaag de testkosten: verminder de trainingstijd van het personeel, verminder de input van apparatuur en personeel;

3. Handig beheer ter plaatse: standaard geïntegreerde optische padbox, minder ruimte, eenvoudige optische padverbinding;

4. Systeemfoutpreventie: de operator werkt volgens de prompt, de bedieningselementen zijn minder, het systeem bepaalt en berekent automatisch;

5. Uitgebreide testparameters: inclusief IL, RL, PDL, ISO, .cwl, BW, Ripple WDM-indexen zoals;

6. Classificatie van testresultaten: Definieer meerdere productniveaus op basis van de werkelijke behoeften van de productie;

7. Traceerbaarheid van testgegevens: Gegevens worden bewaard in de database en lokaal, en records kunnen lange tijd worden getraceerd;

8. Gecombineerd met FIS/MES-systeem: papierloos in de ware zin van het woord kan worden bereikt.

Testprincipe: